《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志的收稿方向主要包括：自動化技術(shù)及設(shè)備、計算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、計量與測試技術(shù)、可靠性與環(huán)境適應(yīng)性理論研究、可靠性與環(huán)境試驗技術(shù)及評價、仿真建模與分析、軟件可靠性與評測技術(shù)、可靠性設(shè)計與工藝控制、電子、電路設(shè)計與應(yīng)用等等。

該雜志收稿方向廣泛，涵蓋了電子的多個重要領(lǐng)域和前沿話題，為電子工作者和研究者提供了一個交流和分享學(xué)術(shù)成果的重要平臺。

《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志投稿要求

（1）標(biāo)題：一般單獨占行，居左；段首小標(biāo)題，前空兩格，后空一格。

（2）文末請附作者詳細(xì)聯(lián)系方式（真實姓名、工作單位、地址、郵編、電話、電子郵箱等），以便及時聯(lián)絡(luò)。如愿附上作者個人簡況，甚是歡迎。

（3）注釋。注釋用于對文內(nèi)某一特定內(nèi)容的解釋或說明，其序號分別為：①、②、③…，注釋內(nèi)容置于正文之后。

（4）請自留底稿，不采用的稿件及圖片一般不寄還。

（5）如論文屬于基金項目，需注明基金項目類別、項目名稱及編號，多個項目間以“、”分隔。格式如下：基金名稱“項目名稱”(項目編號)。

《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志是由中華人民共和國工業(yè)和信息化部主管和工業(yè)和信息化部電子第五研究所(中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所)工業(yè)和信息化部電子第五研究所 (中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所) (中國賽寶實驗室)主辦的學(xué)術(shù)理論期刊，創(chuàng)刊于1980年，國內(nèi)外公開發(fā)行，國際刊號ISSN為1672-5468，國內(nèi)刊號CN為44-1412/TN，該雜志級別為部級期刊，預(yù)計審稿周期為1個月內(nèi)。

該雜志在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力，多次獲得國內(nèi)外權(quán)威獎項，如Caj-cd規(guī)范獲獎期刊、中國優(yōu)秀期刊遴選數(shù)據(jù)庫、中國期刊全文數(shù)據(jù)庫（CJFD）、中國學(xué)術(shù)期刊（光盤版）全文收錄期刊等。

在收錄方面，《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志被多個知名數(shù)據(jù)庫收錄，包括：知網(wǎng)收錄(中)、維普收錄(中)、萬方收錄(中)、國家圖書館館藏、上海圖書館館藏等，在電子領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)價值和影響力，是電子研究者和實踐者的重要參考刊物。