《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志影響因子：5.6。
期刊Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近年評價數據趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢入口：
（1）Web of Science：是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺，收錄全球高質量學術期刊，提供詳細的期刊引證報告，包括影響因子、分區、被引頻次等關鍵指標。
（2）?Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一個網站，提供了期刊影響因子、引用數據和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。
（3）中科院SCI期刊分區表：提供中科院分區的期刊數據查詢，包括影響因子和分區信息。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術-工程：電子與電氣為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優秀期刊。
該雜志出版語言為English，創刊于1952年。自創刊以來，已被SCIE（科學引文索引擴展板）等國內外知名檢索系統收錄。該雜志發表了高質量的論文，重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。
?學術地位：在JCR分區中位列Q1區，中科院分區為工程技術大類2區，ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣小類2區。
期刊發文分析
國家 / 地區發文量統計
| 國家 / 地區 | 發文量 |
| CHINA MAINLAND | 696 |
| Italy | 237 |
| USA | 215 |
| India | 144 |
| England | 101 |
| Canada | 92 |
| GERMANY (FED REP GER) | 70 |
| Spain | 53 |
| South Korea | 47 |
| Brazil | 38 |
期刊引用數據次數統計
| 期刊引用數據 | 引用次數 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE SENS J | 265 |
| IEEE T IND ELECTRON | 205 |
| MEAS SCI TECHNOL | 203 |
| SENSORS-BASEL | 177 |
| IEEE T MICROW THEORY | 174 |
| METROLOGIA | 167 |
| IEEE T POWER DELIVER | 162 |
| MEASUREMENT | 151 |
| MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
期刊被引用數據次數統計
| 期刊被引用數據 | 引用次數 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE ACCESS | 940 |
| SENSORS-BASEL | 761 |
| IEEE SENS J | 555 |
| MEASUREMENT | 390 |
| ENERGIES | 245 |
| APPL SCI-BASEL | 194 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
| IEEE T IND ELECTRON | 149 |
| MEAS SCI TECHNOL | 149 |
文章引用數據次數統計
| 文章引用數據 | 引用次數 |
| Automatic Defect Detection of Fasteners on... | 54 |
| Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method... | 53 |
| Medical Image Fusion With Parameter-Adapti... | 43 |
| Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using... | 40 |
| Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosi... | 34 |
| Deep Architecture for High-Speed Railway I... | 26 |
| Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Gr... | 26 |
| RideNN: A New Rider Optimization Algorithm... | 25 |
| An Unsupervised-Learning-Based Approach fo... | 21 |
| A CNN-Based Defect Inspection Method for C... | 20 |
