《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志影響因子：1.8。
期刊Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena近年評價數據趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢入口：
（1）Web of Science：是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺，收錄全球高質量學術期刊，提供詳細的期刊引證報告，包括影響因子、分區、被引頻次等關鍵指標。
（2）?Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一個網站，提供了期刊影響因子、引用數據和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。
（3）中科院SCI期刊分區表：提供中科院分區的期刊數據查詢，包括影響因子和分區信息。
《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志是由Elsevier出版社主辦的一本以物理-光譜學為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優秀期刊。
該雜志出版語言為Multi-Language，創刊于1972年。自創刊以來，已被SCIE（科學引文索引擴展板）等國內外知名檢索系統收錄。該雜志發表了高質量的論文，重點介紹了SPECTROSCOPY在分析和實踐中的理論、研究和應用。
?學術地位：在JCR分區中位列Q2區，中科院分區為物理與天體物理大類4區，SPECTROSCOPY光譜學小類3區。
期刊發文分析
機構發文量統計
| 機構 | 發文量 |
| UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 12 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 11 |
| CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE (CNR) | 9 |
| TECHNISCHE UNIVERSITAT WIEN | 9 |
| CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... | 8 |
| HELMHOLTZ ASSOCIATION | 8 |
| UPPSALA UNIVERSITY | 8 |
| CZECH ACADEMY OF SCIENCES | 7 |
| HUNAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 7 |
| UNIVERSITY OF DELHI | 7 |
國家 / 地區發文量統計
| 國家 / 地區 | 發文量 |
| USA | 39 |
| CHINA MAINLAND | 31 |
| GERMANY (FED REP GER) | 30 |
| India | 28 |
| Japan | 26 |
| Italy | 19 |
| Russia | 15 |
| Sweden | 15 |
| France | 13 |
| Poland | 12 |
期刊引用數據次數統計
| 期刊引用數據 | 引用次數 |
| J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
| PHYS REV A | 148 |
| PHYS REV LETT | 132 |
| PHYS REV B | 131 |
| J PHYS B-AT MOL OPT | 110 |
| J CHEM PHYS | 102 |
| SURF INTERFACE ANAL | 91 |
| APPL SURF SCI | 56 |
| SURF SCI | 54 |
| ATOM DATA NUCL DATA | 51 |
期刊被引用數據次數統計
| 期刊被引用數據 | 引用次數 |
| J PHYS CHEM C | 181 |
| PHYS REV B | 154 |
| J CHEM PHYS | 151 |
| PHYS CHEM CHEM PHYS | 151 |
| J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
| APPL SURF SCI | 139 |
| ACS APPL MATER INTER | 89 |
| PHYS REV A | 79 |
| J PHYS CHEM A | 69 |
| SURF INTERFACE ANAL | 64 |
文章引用數據次數統計
| 文章引用數據 | 引用次數 |
| XPS in industry-Problems with binding ener... | 15 |
| Chemical bonding in carbide MXene nanoshee... | 14 |
| Chemical surface analysis on materials and... | 11 |
| Imaging XPS for industrial applications | 10 |
| Automated electron-optical system optimiza... | 10 |
| Electronic and magnetic properties of the ... | 9 |
| Reliable absorbance measurement of liquid ... | 9 |
| Electronic properties of composite iron (I... | 8 |
| Investigation of local geometrical structu... | 6 |
| Effect of argon sputtering on XPS depth-pr... | 6 |
